Saskaņā ar nesenu Dienvidkorejas ziņojumu un iepriekšēju Wccftech publikāciju Samsung iekšējie testi, kā ziņots, liecina, ka Exynos 2700 nodrošina 20 procentu pārsvaru daudzkodolu CPU caurlaidspējā un 20 procentu priekšrocību GPU uzdevumos salīdzinājumā ar Qualcomm Snapdragon 8 Elite Extreme Gen 6.
Ziņojumā šī plaisa daļēji skaidrota ar Qualcomm pāreju uz TSMC 2 nm tehnoloģisko procesu un jauno Offset PoP iepakojumu, kas, pēc izdevuma vērtējuma, nav uzlabojis Qualcomm pozīcijas šajos iekšējos salīdzinājumos.
Veiktspējas testi un neskaidras testu detaļas
Korejiešu medijs, kas publicēja ziņotos skaitļus, apgalvoja, ka Exynos 2700 pārspēja Snapdragon 8 Elite Extreme Gen 6 Geekbench 6.5 testā un uzrādīja 15 procentu priekšrocību Geekbench 7. Tajā pašā rakstā minēts arī 20 procentu GPU pārsvars, taču nav norādīts konkrēts GPU etalontests. Citā spēļu salīdzinājumā, par kuru ziņoja izdevums, Exynos 2700 bija aptuveni par 5 procentiem ātrāks, lai gan nav minēts, kurā spēlē šis rezultāts iegūts.

Ziņojumā atkārtoti Samsung iepriekšējie apgalvojumi, ka Qualcomm flagmanim šajos iekšējos testos novērota termiskā ierobežošana un pārkaršana. Savukārt neatkarīgie testi ārpus Samsung datiem līdz šim snieguši atšķirīgu priekšstatu par Qualcomm mikroshēmu.
Termika un iepakojums
Iepriekšējā publikācijā minētie neatkarīgie testi liecina, ka Snapdragon 8 Elite Extreme Gen 6 ar Offset PoP iepakojumu maksimālo temperatūras slieksni sasniedz divreiz lēnāk nekā Snapdragon 8 Elite Gen 5. Tas tiek interpretēts kā būtisks Qualcomm SoC ilgstošās veiktspējas uzlabojums. Publiski citētajos materiālos neatkarīgie testi nav nosaukti.
Šī ir otrā reize, kad Samsung iekšējie etalontesti tiek pasniegti kā apliecinājums Snapdragon 8 Elite Extreme Gen 6 vājākai veiktspējai. Ja ārējie neatkarīgie testi neapstiprinās ziņoto 20 procentu daudzkodolu veiktspējas plaisu, šie iekšējie rezultāti paliks bez trešās puses apstiprinājuma. Korejiešu ziņojumā un iepriekšējā Wccftech rakstā nav norādīti konkrēti GPU etalontesti vai spēles, kas izmantotas salīdzinājumos.
Wccftech žurnālists Omars Sohails tiek minēts kā autors iepriekšējai ziņošanai par šiem iekšējiem testiem un pusvadītāju piegādes ķēdes kontekstu, kas papildina Samsung apgalvojumus par mikroshēmu attīstību.



.webp)
Diskusija
Atstāt komentāru
Komentāri
Vēl nav komentāru. Esiet pirmais.